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    半導體測試儀器

    當前頁面: 首頁 產品 半導體測試儀器 雪崩能量測試儀
    雪崩能量測試儀

    雪崩能量測試儀

    • ?電流到200A

    •  單通道和雙通道 N/P或組合器件測試   (MOSFET、IGBT以及二極管) 

       可測試高達2500V雪崩電壓、200A峰值電流等級設備 

       支持單脈沖雪崩測試(EAS)、重復雪崩能量測試(EAR)、 重復脈沖至失效測試(RPF) 

       高速校準DAC可提升測試精度 

       用戶可調節的電源電壓(10V至150V)穩定可靠 

       漏極、源極接觸檢查電路可檢測20Ω以下的接觸電阻,提 供報錯提示(LED) 

       可設柵極驅動電壓(最大電壓差:30V,最大電壓值:28V)適 應不同被測件所需 

       可在雪崩前、雪崩后進行可調值的泄漏測試、以確定被測 件當前狀態 

       高速固態開關、帶故障檢測功能 

       高精度的電流和電壓波形捕捉以及雪崩持續時間捕捉 

        7寸24位色TF LCD電容式觸摸屏,中英文可選操作界面, 用于單機操作、輸入測試規格以及提供測試數據顯示。 

       提供指令用于用戶將屏幕信息存儲于U盤 

       儀器有開機自檢和在線自檢功能、為用戶排查儀器內部故 障問題 

       配備簡單自動校準程序,用戶可現場進行校準 

       配備多種接口:用于遠程測試控制的GPIB接口、前后面板各配備一個的高速串行接口、支持高速傳輸數據的LAN 口。 LAN口不僅可用于遠程測試控制,在用戶需要觀測即時 測試波形時,可使用 LAN口搭配上位機程序查看每一一次 的波形數據

       可與TH530-01 可編程電感負載箱(0.01 至159.9mH)或外部電感器配合使用 

       可外接示波器觸發器輸出,同步可視化雪崩測試過程,用 于準確測量雪崩時間

    •  單通道和雙通道 N/P或組合器件測試   (MOSFET、IGBT以及二極管) 

       可測試高達2500V雪崩電壓、200A峰值電流等級設備 

       支持單脈沖雪崩測試(EAS)、重復雪崩能量測試(EAR)、 重復脈沖至失效測試(RPF) 

       高速校準DAC可提升測試精度 

       用戶可調節的電源電壓(10V至150V)穩定可靠 

       漏極、源極接觸檢查電路可檢測20Ω以下的接觸電阻,提 供報錯提示(LED) 

       可設柵極驅動電壓(最大電壓差:30V,最大電壓值:28V)適 應不同被測件所需 

       可在雪崩前、雪崩后進行可調值的泄漏測試、以確定被測 件當前狀態 

       高速固態開關、帶故障檢測功能 

       高精度的電流和電壓波形捕捉以及雪崩持續時間捕捉 

        7寸24位色TF LCD電容式觸摸屏,中英文可選操作界面, 用于單機操作、輸入測試規格以及提供測試數據顯示。 

       提供指令用于用戶將屏幕信息存儲于U盤 

       儀器有開機自檢和在線自檢功能、為用戶排查儀器內部故 障問題 

       配備簡單自動校準程序,用戶可現場進行校準 

       配備多種接口:用于遠程測試控制的GPIB接口、前后面板各配備一個的高速串行接口、支持高速傳輸數據的LAN 口。 LAN口不僅可用于遠程測試控制,在用戶需要觀測即時 測試波形時,可使用 LAN口搭配上位機程序查看每一一次 的波形數據

       可與TH530-01 可編程電感負載箱(0.01 至159.9mH)或外部電感器配合使用 

       可外接示波器觸發器輸出,同步可視化雪崩測試過程,用 于準確測量雪崩時間

    •  單通道和雙通道 N/P或組合器件測試   (MOSFET、IGBT以及二極管) 

       可測試高達2500V雪崩電壓、200A峰值電流等級設備 

       支持單脈沖雪崩測試(EAS)、重復雪崩能量測試(EAR)、 重復脈沖至失效測試(RPF) 

       高速校準DAC可提升測試精度 

       用戶可調節的電源電壓(10V至150V)穩定可靠 

       漏極、源極接觸檢查電路可檢測20Ω以下的接觸電阻,提 供報錯提示(LED) 

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       可在雪崩前、雪崩后進行可調值的泄漏測試、以確定被測 件當前狀態 

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       儀器有開機自檢和在線自檢功能、為用戶排查儀器內部故 障問題 

       配備簡單自動校準程序,用戶可現場進行校準 

       配備多種接口:用于遠程測試控制的GPIB接口、前后面板各配備一個的高速串行接口、支持高速傳輸數據的LAN 口。 LAN口不僅可用于遠程測試控制,在用戶需要觀測即時 測試波形時,可使用 LAN口搭配上位機程序查看每一一次 的波形數據

       可與TH530-01 可編程電感負載箱(0.01 至159.9mH)或外部電感器配合使用 

       可外接示波器觸發器輸出,同步可視化雪崩測試過程,用 于準確測量雪崩時間

    •  單通道和雙通道 N/P或組合器件測試   (MOSFET、IGBT以及二極管) 

       可測試高達2500V雪崩電壓、200A峰值電流等級設備 

       支持單脈沖雪崩測試(EAS)、重復雪崩能量測試(EAR)、 重復脈沖至失效測試(RPF) 

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       用戶可調節的電源電壓(10V至150V)穩定可靠 

       漏極、源極接觸檢查電路可檢測20Ω以下的接觸電阻,提 供報錯提示(LED) 

       可設柵極驅動電壓(最大電壓差:30V,最大電壓值:28V)適 應不同被測件所需 

       可在雪崩前、雪崩后進行可調值的泄漏測試、以確定被測 件當前狀態 

       高速固態開關、帶故障檢測功能 

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       配備簡單自動校準程序,用戶可現場進行校準 

       配備多種接口:用于遠程測試控制的GPIB接口、前后面板各配備一個的高速串行接口、支持高速傳輸數據的LAN 口。 LAN口不僅可用于遠程測試控制,在用戶需要觀測即時 測試波形時,可使用 LAN口搭配上位機程序查看每一一次 的波形數據

       可與TH530-01 可編程電感負載箱(0.01 至159.9mH)或外部電感器配合使用 

       可外接示波器觸發器輸出,同步可視化雪崩測試過程,用 于準確測量雪崩時間

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