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    半導體測試儀器

    當前頁面: 首頁 產品 半導體測試儀器 功率器件分析儀
    功率器件分析儀

    TH521系列

    • TH521 的常規特性

      高達 3.5kV/1800A的寬廣工作范圍

       -50 ° +250 °的全自動快速熱測試

      自動創建功率器件(半導體和元器件)的技術資料

      自動記錄功能可防止數據丟失

      AI輔助編寫python測試腳本


      TH521 IV 套件特性

      可對封裝和晶圓上器件進行全自動快速 IV 測量 RonBV、泄漏、VthVsat 等)

       IV 脈沖寬度(最窄 10 μs)可防止器件自發熱,更準確地測試器件實 際性能

      示波器視圖(時域視圖)可以監測實際電壓/電流脈沖波形,以便進行準 確測量

      配置可以靈活擴展,添加 CV  Qg,將電流范圍從20 A擴展到 200A 600 A 1800 A


      TH521 套件的完整特性

      IV 套件的全部特性

      測量封裝器件在 3.5 kV 時的晶體管輸入、輸出和反向傳輸電容 

      CissCossCrssCiesCoesCres)以及柵極電阻(Rg

      測量封裝器件的柵極電荷(Qg)曲線

      計算功率損耗(傳導、驅動和開關損耗)


    • TH521 的常規特性

      高達 3.5kV/1800A的寬廣工作范圍

       -50 ° +250 °的全自動快速熱測試

      自動創建功率器件(半導體和元器件)的技術資料

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      AI輔助編寫python測試腳本


      TH521 IV 套件特性

      可對封裝和晶圓上器件進行全自動快速 IV 測量 RonBV、泄漏、VthVsat 等)

       IV 脈沖寬度(最窄 10 μs)可防止器件自發熱,更準確地測試器件實 際性能

      示波器視圖(時域視圖)可以監測實際電壓/電流脈沖波形,以便進行準 確測量

      配置可以靈活擴展,添加 CV  Qg,將電流范圍從20 A擴展到 200A 600 A 1800 A


      TH521 套件的完整特性

      IV 套件的全部特性

      測量封裝器件在 3.5 kV 時的晶體管輸入、輸出和反向傳輸電容 

      CissCossCrssCiesCoesCres)以及柵極電阻(Rg

      測量封裝器件的柵極電荷(Qg)曲線

      計算功率損耗(傳導、驅動和開關損耗)


    • TH521 的常規特性

      高達 3.5kV/1800A的寬廣工作范圍

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      TH521 IV 套件特性

      可對封裝和晶圓上器件進行全自動快速 IV 測量 RonBV、泄漏、VthVsat 等)

       IV 脈沖寬度(最窄 10 μs)可防止器件自發熱,更準確地測試器件實 際性能

      示波器視圖(時域視圖)可以監測實際電壓/電流脈沖波形,以便進行準 確測量

      配置可以靈活擴展,添加 CV  Qg,將電流范圍從20 A擴展到 200A 600 A 1800 A


      TH521 套件的完整特性

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      測量封裝器件在 3.5 kV 時的晶體管輸入、輸出和反向傳輸電容 

      CissCossCrssCiesCoesCres)以及柵極電阻(Rg

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      高達 3.5kV/1800A的寬廣工作范圍

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      TH521 IV 套件特性

      可對封裝和晶圓上器件進行全自動快速 IV 測量 RonBV、泄漏、VthVsat 等)

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      示波器視圖(時域視圖)可以監測實際電壓/電流脈沖波形,以便進行準 確測量

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